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2015-9

半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀穩(wěn)定性強(qiáng)，適用范圍廣

半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀是為了適應(yīng)當(dāng)前迅速發(fā)展中的高分子半導(dǎo)電納米材料電阻率測(cè)試需要，參照有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的。半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀是根據(jù)四探針原理，適合半導(dǎo)體器材廠，材料廠用于測(cè)量半導(dǎo)體材料(片狀、棒狀)的體電阻率，方塊電阻(簿層電阻)，也可以用作測(cè)量金屬薄層電阻，經(jīng)過對(duì)用戶、半導(dǎo)體廠測(cè)試的調(diào)查，根據(jù)美國(guó)ASTM標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，在電路和探頭方面作了重大的修改和技術(shù)上的許多突破，它更適合于半導(dǎo)體器材廠工藝檢測(cè)方面對(duì)中值、高阻硅、鍺材料方塊電阻和體電阻率的測(cè)量需要，成為普及型的電阻率測(cè)試儀，具有...

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2015-8

接觸壓降測(cè)試儀功能強(qiáng)大

接觸壓降測(cè)試儀專業(yè)用于測(cè)試各種開關(guān)、繼電器、接觸器、接線座、接線連接器等接觸點(diǎn)兩端間的實(shí)際工作電壓降。接觸壓降測(cè)試儀是科研單位、計(jì)量測(cè)試部門、生產(chǎn)企業(yè)等單位的*儀器。接觸壓降測(cè)試儀的主要功能：1.通過無線的方式自動(dòng)完成三相三線或三相四線制的電壓互感器二次壓降的測(cè)量，不需要普通方式中要在儀器到測(cè)試遠(yuǎn)端鋪設(shè)一條很長(zhǎng)的電壓測(cè)試線，這樣可避免由于線路過長(zhǎng)引起的不必要的短路故障，而這正是電壓互感器zui應(yīng)避免的;而且有時(shí)這條電壓測(cè)試線需要穿越公路，如無人看守來往車輛會(huì)將線軋壞，本儀器有...

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2015-8

什么是粉體流動(dòng)測(cè)試儀?

顆粒狀物料是由尺寸大小從亞微顆粒至大石塊和礦石的各類固體物質(zhì)組成。在粉體測(cè)試中，至少90%的樣品須由直徑小于1mm的顆粒組成。很多實(shí)例中，更大顆粒的粉體仍舊可以通過篩選1mm的物料并測(cè)試這些纖細(xì)部分而獲得有效分析。（纖細(xì)物料決定了包含有大尺寸顆粒物料的整體流動(dòng)特性）Brookfield用來命名這類物料的專業(yè)術(shù)語稱為“粉體”，因此儀器及命名為“粉體流動(dòng)測(cè)試儀”。粉體流動(dòng)測(cè)試儀性能特點(diǎn)PFT粉體流動(dòng)測(cè)試儀為工業(yè)處理設(shè)備中的粉體流動(dòng)行為提供了快捷而容易的分析。PFT粉體流動(dòng)測(cè)試儀不...

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2015-8

體積電阻測(cè)試儀原理及安全操作準(zhǔn)則

體積電阻測(cè)試儀工作原理：根據(jù)歐姆定律，被測(cè)電阻Rx等于施加電壓V除以通過的電流I。傳統(tǒng)的高阻計(jì)的工作原理是測(cè)量電壓V固定，通過測(cè)量流過取樣電阻的電流I來得到電阻值。從歐姆定律可以看出，由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線性的，即電阻無窮大時(shí)，電流為零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低整個(gè)刻度是非線性的。又由于測(cè)量不同的電阻時(shí)，其電壓V也會(huì)有些變化，所以普通的高阻計(jì)是精度差、分辨率低。體積電阻測(cè)試儀高阻測(cè)量一定要嚴(yán)格按使用步聚進(jìn)行，否...

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2015-7

粉體綜合測(cè)試儀的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量指標(biāo)

粉體綜合測(cè)試儀主要應(yīng)用于制藥、電池材料、粉末涂料、非金屬礦、石墨、食品、有色金屬、粉體工程設(shè)計(jì)、粉體物性研究以及教學(xué)等領(lǐng)域。粉體綜合測(cè)試儀的特點(diǎn)是一機(jī)多用，操作簡(jiǎn)便，重復(fù)性好，測(cè)定條件容易改變，配套完整等。粉體物性是粉體材料的基本特性，研究粉體物性對(duì)粉體生產(chǎn)、加工、包裝、運(yùn)輸、儲(chǔ)存、應(yīng)用等具有重要的實(shí)際意義。粉體綜合測(cè)試儀是用來測(cè)定粉體物性的儀器，具體測(cè)試項(xiàng)目包括休止角、崩潰角、平板角、振實(shí)密度、松裝密度、分散度等。粉體綜合測(cè)試儀的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量項(xiàng)目：1.休止角：粉體堆積層的自由表...

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2015-7

四探針電阻率測(cè)試儀的檢定要求和環(huán)境

電阻率是反映半導(dǎo)體材料導(dǎo)電性能的重要參數(shù)之一。測(cè)量電阻率的方法很多，四探針法是一種廣泛采用的標(biāo)準(zhǔn)方法。它的優(yōu)點(diǎn)是設(shè)備簡(jiǎn)單、操作方便，度高，對(duì)樣品的形狀無嚴(yán)格要求。電阻率測(cè)試儀是用來測(cè)量半導(dǎo)體材料及工藝硅片的電阻率，或擴(kuò)散層及外延層方塊電阻的測(cè)量?jī)x器。一般的四探針電阻率測(cè)試儀均已配置厚度的修正，通過厚度數(shù)值的設(shè)置，計(jì)算出不同的樣品厚度對(duì)電阻率的影響。四探針電阻率測(cè)試儀檢定的技術(shù)要求1、整體方法檢定電阻率測(cè)試儀的標(biāo)準(zhǔn)樣片，表面應(yīng)沒有任何臟物，長(zhǎng)期使用應(yīng)注意定期清洗(按標(biāo)準(zhǔn)樣片使用...

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2015-7

四探針測(cè)試儀簡(jiǎn)介

四探針測(cè)試儀-概述：數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器。儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成，測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示，亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析，然后以表格，圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。四探針測(cè)試儀-特點(diǎn)：儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、精度高、測(cè)量范圍寬...

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2015-7

表面電阻率測(cè)試儀的影響因素

表面電阻率測(cè)試儀的影響因素主要有測(cè)試電壓，測(cè)試時(shí)間，環(huán)境溫濕度和外界干擾這些，下面一一來看下具體的影響在哪里。1.測(cè)試電壓(電場(chǎng)強(qiáng)度)對(duì)表面電阻率測(cè)試儀的影響?介質(zhì)材料的電阻(率)值一般不能在很寬的電壓范圍內(nèi)保持不變，即歐姆定律對(duì)此并不適用。常溫條件下，在較低的電壓范圍內(nèi)，電導(dǎo)電流隨外加電壓的增加而線性增加，材料的電阻值保持不變。超過一定電壓后，由于離子化運(yùn)動(dòng)加劇，電導(dǎo)電流的增加遠(yuǎn)比測(cè)試電壓增加的快，材料呈現(xiàn)的電阻值迅速降低。由此可見，外加測(cè)試電壓越高，材料的電阻值越低，以致...

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